因為專業
所以領先
Hybrid Bonding(混合鍵合)技術結合銅-銅(Cu-Cu)直接鍵合與介電層對介電層鍵合(SiO?或SiCN等),實現無焊料、納米級互連。其工藝過程包括初始鍵合后通過熱退火處理(300°C至400°C)促進介質反應和金屬互擴散,形成永久鍵合。該技術主要分為晶圓到晶圓(W2W)鍵合和芯片到晶圓(D2W)鍵合兩種類型,前者適用于面積較小、良率較高的芯片,后者適用于大芯片和異構集成。

傳統HBM制造采用TSV+微凸點(Micro Bump)工藝,面臨多重挑戰:
互連密度受限:微凸點間距通常為40μm,限制通道數量
延遲偏高:多層結構導致信號路徑延長,影響時鐘同步與吞吐
封裝復雜性高:焊料使用帶來熱應力與可靠性問題
功耗問題:互連電阻和寄生電容導致動態功耗偏高
制造難度增加:HBM4凸點間距縮小至10微米,芯片減薄至20微米后翹曲問題嚴重
共面性挑戰:凸點高度不一致導致機械應力、互連疲勞或熱循環失效
超高密度互連:互連間距<10μm(傳統40μm),較熱壓鍵合技術提高15倍密度
低功耗特性:消除焊料凸點顯著降低互連電阻,整體封裝功耗降低30~40%
低延遲傳輸:信號速度提升11.9倍,帶寬密度提升191倍
熱管理優化:緊湊結構和直接導電路徑降低20%堆疊熱阻
信號完整性:低串擾、高帶寬,提升數據傳輸可靠性
混合架構(現階段):TSV用于邏輯Die與DRAM堆疊連接,DRAM層間采用Cu-Cu互連
全混合鍵合架構(未來方向):完全取消TSV,采用100% Cu-Cu互連,實現>16層堆疊與超高密度封裝
空間效率提升:減少87%的TSV互連面積需求,提升空間利用率

| 公司 | 當前階段 | 混合鍵合部署情況 |
| SK海力士 | HBM3E已量產 | HBM4全面導入Hybrid Bonding |
| 三星電子 | HBM3使用TSV | HBM4及后續產品開始導入Hybrid |
| 美光科技 | HBM3采用TSV | 開發HBM4+Hybrid,2025年預計量產 |
| 臺積電 | 提供CoWoS封裝 | 在系統級封裝中推廣Hybrid Bonding |
華為擁有混合鍵合專利,為HBM堆疊提供關鍵技術支撐
佰維存儲通過晶圓級扇出工藝、TSV和混合鍵合等核心技術,將芯片厚度減少30%以上
2025年國產CoWoS-S封裝良率達90%,追平國際最先進水平
混合鍵合型HBM市場將在2025~2027年迎來爆發
HBM4帶寬預期超過2TB/s,容量高達48GB
混合鍵合相關封裝與設備市場將成為半導體產業下一個重點投資方向
面臨的挑戰與權衡
盡管優勢顯著,但Hybrid Bonding要取代現有成熟技術,仍需克服幾大挑戰:
工藝難度與良率:技術對顆粒污染物和有機殘留物極度敏感(1μm的顆粒即可導致缺陷),對晶圓表面平整度、清潔度要求極高,導致工藝復雜、良率提升困難且成本高昂。
與現有技術的競爭:傳統的微凸塊技術仍在持續演進,通過縮小尺寸,預計在10μm間距下仍能支持16層堆疊,憑借其成熟度、高良率和低成本,在未來一段時間內仍將是主流選擇。
因此,行業目前處于一個并行發展階段,廠商會根據產品性能、成本和上市時間的綜合需求,在微凸塊和混合鍵合之間做出選擇。
1. 工藝挑戰
表面平整度:介電表面粗糙度需<0.5nm,銅焊盤<1nm,需化學機械拋光(CMP)作為關鍵步驟
清潔度要求:需ISO 3級或更好潔凈室環境,1微米顆粒可導致直徑10毫米的粘合空隙
對準精度:W2W鍵合系統需實現<50nm的對準精度
熱預算管理:HBM應用要求較低沉積和退火溫度(<300-350°C),防止DRAM刷新退化
混合鍵合工藝成本較傳統工藝增加30%以上
設備供應鏈變動:應用材料收購Besi股份,進入混合鍵合設備市場
全球封裝設備主導權或從韓國廠商向歐美設備巨頭逐步轉移
Hybrid Bonding的應用將深刻影響HBM乃至整個半導體產業鏈:
技術節點成為分水嶺:行業共識是,當HBM堆疊層數邁向20層(HBM5世代)及以上時,混合鍵合將從“可選項”變為“必選項”,以滿足極致的帶寬、功耗和封裝厚度要求。
驅動設備市場增長:Hybrid Bonding創造了新的高端設備需求。預計到2028年,其設備市場規模可能達到近20億美元。目前市場由荷蘭Besi公司主導,但韓國廠商(如韓美半導體、韓華、LG電子)正大力投資研發,計劃在未來幾年推出產品,以期改變競爭格局。
重塑產業鏈生態:這項技術將帶動從新材料、精密拋光/蝕刻設備到檢測方案等一系列供應鏈的升級。同時,它也催生了新的合作模式,例如三星為了加速其3D NAND技術開發,選擇從長江存儲獲得相關專利授權
技術融合:混合鍵合將與Chiplet、3D IC技術融合,構建更高集成度的系統封裝平臺
架構創新:高密度互連使設計人員能夠對芯片功能進行模塊化和異構集成
應用場景擴展:從AI服務器向消費電子(如iPhone)、邊緣計算和自動駕駛等領域擴展
產業格局重塑:隨著各國"主權AI"戰略推進,HBM作為核心基礎設施將發揮更加重要的作用
Hybrid Bonding技術不僅是HBM3E和HBM4的關鍵技術支撐點,更可能成為整個高帶寬、低功耗系統封裝的新范式。其對功耗控制、信號完整性、封裝緊湊性和系統集成度的全面優化,為未來AI/HPC應用提供了堅實基礎。隨著主流存儲廠商和設備企業加速布局,混合鍵合將在未來3~5年內成為高端封裝領域的"新基石",推動HBM技術持續演進,重塑全球半導體競爭格局。
水基清洗的工藝和設備配置選擇對清洗精密器件尤其重要,一旦選定,就會作為一個長期的使用和運行方式。水基清洗劑必須滿足清洗、漂洗、干燥的全工藝流程。
污染物有多種,可歸納為離子型和非離子型兩大類。離子型污染物接觸到環境中的濕氣,通電后發生電化學遷移,形成樹枝狀結構體,造成低電阻通路,破壞了電路板功能。非離子型污染物可穿透PC B 的絕緣層,在PCB板表層下生長枝晶。除了離子型和非離子型污染物,還有粒狀污染物,例如焊料球、焊料槽內的浮點、灰塵、塵埃等,這些污染物會導致焊點質量降低、焊接時焊點拉尖、產生氣孔、短路等等多種不良現象。
這么多污染物,到底哪些才是最備受關注的呢?助焊劑或錫膏普遍應用于回流焊和波峰焊工藝中,它們主要由溶劑、潤濕劑、樹脂、緩蝕劑和活化劑等多種成分,焊后必然存在熱改性生成物,這些物質在所有污染物中的占據主導,從產品失效情況來而言,焊后殘余物是影響產品質量最主要的影響因素,離子型殘留物易引起電遷移使絕緣電阻下降,松香樹脂殘留物易吸附灰塵或雜質引發接觸電阻增大,嚴重者導致開路失效,因此焊后必須進行嚴格的清洗,才能保障電路板的質量。
合明科技研發的水基清洗劑配合合適的清洗工藝能為芯片封裝前提供潔凈的界面條件。
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主營產品包括:集成電路與先進封裝清洗材料、電子焊接助焊劑、電子環保清洗設備、電子輔料等。
半導體技術應用節點:FlipChip ;2D/2.5D/3D堆疊集成;COB綁定前清洗;晶圓級封裝;高密度SIP焊后清洗;功率電子清洗。